淄博森源電氣有限公司長期供應硬度計，測厚儀，測溫儀，粗糙度儀，測振儀，聲級計，噪音計，測距儀，水準儀，色差儀，粘度計，探傷儀等各種儀器儀表，詳情咨詢電話0533-6206158或登錄網(wǎng)站：http://www.testchina.net
同軸光體視顯微鏡PXS8-Te特點：

適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質控制、裝配、公安、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農(nóng)業(yè)選種，紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。PXS8-Te來自美國的品牌，目前國內僅有的高倍立體顯微鏡，我們采用和國外同步的同軸光技術，以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標準的使用要求。
品質優(yōu)良的光學系統(tǒng)使圖像更明亮，即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。
粗微動的調焦首次應用在高倍體視上，使高倍調焦變得更加精準。
多種支架的選配，總能滿足復雜工位的操作要求。
還有各種光譜光源的配合，幫助解決碰到的困難。

同軸光體視顯微鏡PXS8-Te主要技術參數(shù)：

鏡筒：雙目，45度傾斜 
高眼點大視野目鏡：PLAN10X/20 mm 
物鏡：0.9X-7.4X 
變倍比：1：8.2 
總放大倍數(shù)：9-74X 
調焦：粗微動調焦，粗動立桿高度300mm，升降范圍105mm 
工作距離：102mm

光源:同軸光.